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Séminaire ETIS : Tanguy Phulpin

Titre du séminaire et orateur

Contribution à l'analyse des mécanismes de défaillance lors de décharges électrostatiques (ESD) et de radiations aux ions lourds de composants MESFET en carbure de silicium.

Tanguy Phulpin, ETIS, équipe ASTRE.

Date et lieu

Jeudi 15 décembre 2016, 14h30.

ENSEA, salle 384.

Résumé

La gestion de l’énergie électrique est au cœur des enjeux environnementaux. L’éclosion de semi-conducteurs à grand gap comme le carbure de silicium (SiC) permet la réalisation de composants aux performances supérieures à celles des composants en silicium pour l’électronique de puissance. Toutefois, le comportement de ces dispositifs lors de décharges électrostatiques (ESD) ou lors de radiations est mal connu et nécessite des études spécifiques.

Dans ces travaux, plusieurs composants MESFET SiC ont ainsi été testés face aux ESD et l’étude des mécanismes de défaillance a montré soit la défaillance de l’oxyde de passivation, soit la sublimation du SiC suite au déclenchement d’une structure parasite. L’intégration d’une diode Zener sur l'électrode de drain du MESFET a ainsi été testée et validée comme protection ESD. La simulation montre que cette protection est inefficace par rapport à la tenue aux radiations d’ions lourds.

Assurer la robustesse de ces technologies n’apparaît pas plus simple que pour les composants en silicium. Des solutions sont toutefois envisageables pour aider les concepteurs à améliorer la robustesse aux ESD, bien que des études supplémentaires restent à mener.

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